SOI(硅技术)
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SOI(Silicon-On-Insulator)即绝缘衬底上的硅,通过在硅衬底顶部与基底层之间嵌入埋氧化层实现元器件介质隔离。该技术可减少寄生电容,提升运行速度20-35%,降低功耗35-70% ,并消除体硅CMOS电路的寄生闩锁效应。主要结构分为薄膜全耗尽(FD)和厚膜部分耗尽(PD)两类,其中FD结构具有低电场、良好短沟道特性等优势 。
SOI材料包括SIMOX、BESOI和Smart Cut三种类型,其中Smart Cut被认为是未来主流 。应用于集成电路制造领域时,可简化工艺流程并兼容现有硅技术,同时可用于制造MEMS光开关等微机电系统。IBM、AMD等企业推动其发展,而Intel因担忧晶圆质量等问题未采用该技术 。
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