MOS结构
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MOS结构是由金属层、氧化物绝缘层和半导体层构成的三层复合结构,是现代半导体器件的核心基础。该结构通过栅极电压调控半导体表面载流子浓度,实现电流导通或截止状态的控制,其作为两端口器件时也称为MOS电容,有时也用MIS(金属-绝缘体-半导体)来指代该结构 。基于MOS结构发展出MOSFET(金属-氧化物-半导体场效应晶体管)和CMOS(互补金属-氧化物-半导体)两种典型器件 ,其中功率MOSFET按导电沟道可分为P沟道和N沟道,按栅极电压幅值可分为耗尽型和增强型 ,CMOS则由NMOS和PMOS晶体管互补组合而成。前者应用于电源管理、信号放大领域,后者因低功耗特性成为数字集成电路的核心技术 。MOS结构的制备涉及外延生长、离子注入等半导体工艺,其高输入阻抗和易集成特性推动了微电子技术的发展。MOSFET的结构经历了从平面型到FinFET(鳍式场效应晶体管)再到RibbonFET的演进 ,并在碳化硅(SiC)等宽禁带半导体材料上,功率SiC MOSFET发展出平面栅(VDMOS)和沟槽栅(TMOS)两种主要技术路线 。2024年,我国成功攻关沟槽型碳化硅MOSFET芯片制造关键技术 。
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