李志国(北京工业大学教授)
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李志国,北京工业大学教授、博士生导师,校半导体器件可靠性物理研究室主任,享受国务院特殊津贴,担任中国电子学会高级会员及可靠性分会委员 。其研究领域涵盖半导体器件可靠性、金属化系统优化及长期贮存性能评估。
李志国自1996年起主持国家自然科学基金重点项目“ULSI中铜互连线的研究”、北京市自然科学基金“电迁徙中的回流效应及回流加固技术的研究” 。提出采用Al-Si-Cu合金改善电迁移寿命、介质覆盖增强抗电迁徙能力等技术方案 ,系统研究扩散阻挡层在半导体器件金属化系统中的应用 。参与国产晶体管长期贮存可靠性研究,发现贮存37年的3DK7F晶体管年均退化率为-1.35% 。主导建立加速试验失效机理一致性判定方法,通过3DG130样品序进应力试验验证 。科研成果获1995年电子部科技进步二等奖、1996年及1999年北京市科技进步二等奖
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